다이캐스팅 공정데이터 이상 탐지
개요 다이캐스팅 공정의 시계열 패턴을 기반으로 불량을 예측하고, SHAP·CCF로 불량의 주요 원인을 해석한 제조데이터 분석 프로젝트입니다. 대회 제4회 K-인공지능 제조데이터 분석 경진대회 (KAMP, 2024) 기간 2024.10~2024.11(약 2주) 데이터 다이캐스팅 공정 시계열 2,852,465 cells …
개요 다이캐스팅 공정의 시계열 패턴을 기반으로 불량을 예측하고, SHAP·CCF로 불량의 주요 원인을 해석한 제조데이터 분석 프로젝트입니다. 대회 제4회 K-인공지능 제조데이터 분석 경진대회 (KAMP, 2024) 기간 2024.10~2024.11(약 2주) 데이터 다이캐스팅 공정 시계열 2,852,465 cells …